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QTL定位

數量性狀在遺傳上是由很多基因控制的,其中每個基因對表現型具有相對小的效應,但很大程度上受環境因素影響。控制數量性狀的主效基因位點通常記為QTL (Quantitative Trait Loci)。分子標記連鎖圖譜的大量出現,使得我們可以像研究質量性狀基因一樣研究數量性狀基因,也可以把單個數量性狀基因定位在染色體上,并估計其遺傳效應,這一過程稱為QTL作圖或定位。

Sample requirements

材料準備            

首先需要構建作圖群體進行高質量遺傳連鎖圖的繪制,然后測定作圖群體中不同個體或株系的標記基因型;對標記基因型數據進行連鎖分析,構建標記連鎖圖。然后將QTL定位在遺傳圖譜上,確定QTL與遺傳標記間的距離(以重組率表示)。

  •                            

    作圖群體

    臨時作圖群體:F1、F2、BC等
    永久作圖群體:RIL、NIL、DH等
  •                            

    分子標記

    SSR
    SNP
  •                            

    模型選擇

    區間作圖法 IM
    復合區間作圖法 CIM
    多重區間作圖法 MIM

Schematic diagram and flow chart

技術示意圖及具體流程                

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Credit analysis

結果展示            

  • 定位結果 /                            
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    基于標記的分析法正是通過檢驗標記的不同基因型之間的這些差異來判斷標記是否與QTL連鎖的。
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